2021年9月27日,万众期待的第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2021)在北京·中国国际展览中心(天竺新馆)盛大开幕。
值得一提的是,在此次BCEIA同期举办的ANTOP颁奖典礼中,优尼康凭借优秀的服务和丰富的应用经验获得ANTOP奖“薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者”
左二:优尼康总经理(李扬)
ANTOP奖是分析测试百科网每年经网友投票和专家评审后,评选而出。
奖项主体:优尼康科技有限公司
奖项名称:薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者
获奖理由:
优尼康科技有限公司自2012年成立,一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域,为半导体、面板、LED、消费电子、生物医疗等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。多年的耕耘,让优尼康在国内桌面式膜厚与表面形貌测量设备的市场占有率上遥遥领先国内其他企业。现优尼康已服务近千家客户,为45个行业的用户提供数百种应用及工艺方面的支持,以强大的研发能力和丰富的经验,在设备设计和集成上也帮助客户解决诸多行业特殊应用问题。
现在的荣誉只是为了让我们在未来的发展路上更好的服务于大家。
ANTOP只是开始,未来优尼康还会坚持以“真诚,专注,信赖”的经营理念走下去!