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NI在半导体测试上的关键创新

1、NI矢量信号收发仪(VST)

a、基于FPGA的处理加速测试;

b、高达1GHz实时带宽,适用于多种无线技术;

c、研发级别的测试性能,为802.11ax测试提供-50dB EVM性能。

2、NI源测量单元(SMUs)

a、更宽的IV特性:200V(20W)、3A;

b、电流灵敏度高达10fA;

c、最高残阳率1.8MS/s;

d、SourceAdapt技术为容性负载快速简历稳定响应;

e、高密度和高精度。

3、NI基于向量的PXI数字板卡

a、ATE级的PXI数字板卡(带有PPMU)

b、开箱即用Pattern编辑软件;

c、定时设置,驱动格式,操作字,源和捕获;

d、历史RAM、Shmoo图分析。

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